在半導體自動化測試領域，信號的高保真度對于確保測試的準確性和可靠性至關重要。高保真信號發(fā)生器能夠生成多種類型的模擬和數(shù)字信號，如正弦波、方波、脈沖波等，為測試提供純凈而穩(wěn)定的信號源。它們不僅幫助驗證器件的基本功能，還能通過模擬現(xiàn)實環(huán)境中的噪聲干擾來評估器件在極端條件下的表現(xiàn)，例如檢測振蕩器的頻率穩(wěn)定性等。而采集測量模塊則負責捕捉測試對象的響應信號，并將其轉化為便于進一步分析的數(shù)字數(shù)據(jù)，通常需要具備高速采樣能力和高分辨率以確保數(shù)據(jù)質量。

據(jù)姜海濤透露，基于ADMX1001和ADMX1002芯片組的超低失真波形發(fā)生器和采集模塊，最顯著的特點在于其緊湊的體積內(nèi)整合了高保真的信號產(chǎn)生和采集功能。ADMX100x系列采用了專有的數(shù)字預失真(DPD)技術，能夠實現(xiàn)極佳的總諧波失真(THD)表現(xiàn)，確保了信號的高質量與低噪聲特性，特別適合于高分辨率測試場合。這款模塊在1KHz頻率點上實現(xiàn)了-130 dB的THD，媲美專業(yè)信號源的精度，在精密ADC測量和音頻測試中有廣泛應用。同時，其小巧的設計使得集成變得更為簡便，用戶只需通過SPI接口和標準API即可輕松操作。如需ADMX1001和ADMX1002產(chǎn)品規(guī)格書、樣片測試、采購、BOM配單等需求，請加客服微信：13310830171。

另外，阻抗測量分析模塊是用于測定電子元件在不同頻率下的阻抗特性的關鍵設備，對于高頻電路和射頻組件尤為關鍵。ADI推出的高性能精密阻抗測量模塊ADMX2001B集成了先進的硬件和軟件，簡化了阻抗測量系統(tǒng)的開發(fā)流程，也能增強現(xiàn)有測試平臺的功能。該模塊能夠在DC到10MHz的范圍內(nèi)進行掃描測量，最小步進精度為0.2Hz，并且在與標準電能表的比較中展現(xiàn)了實驗室級別的精度，相對誤差控制在萬分之五以內(nèi)。

高壓源測量單元(SMU)則是另一款重要的測試設備，它能夠提供精確且可控的高壓電流或電壓，適用于半導體分立器件、集成電路及電力電子器件等高壓條件下的性能測試。ADMX3001是一款四通道的高電壓、大電流輸出SMU，采用24位逐次逼近型ADC和高速高精度DAC構建閉環(huán)系統(tǒng)，通過數(shù)字PID控制和狀態(tài)控制算法確保信號源、測量和鉗位的準確性。該設備支持±100V電壓輸出和1A電流輸出，有助于減少輸出放大器的功率損耗，并簡化電路板設計。

此外，在微波信號分析領域，S參數(shù)是描述射頻和微波網(wǎng)絡信號傳輸特性的重要模型。盡管傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA)尺寸較大，但ADI推出了一種8端口VNA板卡級解決方案，其優(yōu)勢在于緊湊的設計，支持10MHz至20GHz的頻率范圍，并具有-60dBm到10dBm的信號電平范圍。該方案可以方便地集成到各類射頻應用的測試系統(tǒng)中，適用于缺陷檢測、結構分析及多端口測量等多種應用場景，從而大幅提高測試效率。

該VNA方案的核心是ADI最新款的寬帶矢量網(wǎng)絡分析儀模擬前端ADL5960，輔以AD9083 ADC實現(xiàn)高效的信號采樣。整個設計將35個以上的ADI器件集成在一起，形成一個多功能模塊化的系統(tǒng)，為用戶提供靈活而強大的測試工具。